Sensitivities for a single drop simulation

Bischof, Christian; Bücker, Martin; Rasch, Arno; Slusanschi, Emil

Berlin [u.a.] : Springer (2003)
Buchbeitrag

In: Computational science : international conference, Melbourne, Australia and St. Petersburg, Russia, June 2 - 4, 2003; proceedings / ICCS 2003. Peter M. A. Sloot ... (eds.). - Pt. 2
Seite(n)/Artikel-Nr.: 888-896

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